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Analisador de Espectrômetro XRF Si-Pin, Medição da Especificação do Revestimento de Raios X, Medição da Especificação do Revestimento de Ouro XRF

Analisador de Espectrômetro XRF Si-Pin, Medição da Especificação do Revestimento de Raios X, Medição da Especificação do Revestimento de Ouro XRF

    • Si-Pin XRF Spectrometer Analyzer , X Ray Coating Thickness Measurement , XRF Gold Coating Thickness Measurement
    • Si-Pin XRF Spectrometer Analyzer , X Ray Coating Thickness Measurement , XRF Gold Coating Thickness Measurement
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    Detalhes do produto:

    Lugar de origem: China
    Marca: DahoMeter
    Certificação: CE,Rohs,FCC
    Número do modelo: DX-6600

    Condições de Pagamento e Envio:

    Quantidade de ordem mínima: Um conjunto
    Preço: USD999 to USD16999
    Detalhes da embalagem: pacote de madeira de exportação padrão
    Tempo de entrega: 10 dias úteis
    Termos de pagamento: L/C, D/A, D/P, T/T, Western Union, MoneyGram
    Habilidade da fonte: 300 conjuntos por mês
    contacto
    Descrição de produto detalhada
    Detector: Si Pin/SDD (opcional) Analisador multicanal: DMCP
    Tempo de medição: 200 a 600 segundos Requisito de energia:: Fornecido 220 VAC, 50 Hz a 60 Hz, 300 watts de alimentação
    Potência da Fonte de Alta Tensão: 50W, 50kV, 1000μa (máx)

    Analisador de Espectrômetro XRF Si-Pin, Medida da Especificação do Revestimento de Raios X, Medida da Especificação do Revestimento de Ouro XRF

     

     

     

    Aplicação: 

    • .Instruções de inspecção sem halogênio ROHS
    • Campo de análise de ligas
    • Análise da composição da liga de cobre
    • Determinação do número de cobre e ouro
    • Análise da composição do aço inoxidável
    • Julgamento das classes de aço inoxidável
    • Análise da composição do revestimento
    • Análise de filmes
    • Ensaio de protecção ambiental do revestimento
    • Norma de detecção de instruções de embalagem (94/62/CE)
    • CD+PB+Hg+ Cr6 < 100
    • Cr6 CD+PB+Hg+ < 100
    • Normas de ensaio de instruções para brinquedos
    • EN71-3
    • EN71-3

    Analisador de Espectrômetro XRF Si-Pin, Medição da Especificação do Revestimento de Raios X, Medição da Especificação do Revestimento de Ouro XRF

    Analisador de Espectrômetro XRF Si-Pin, Medição da Especificação do Revestimento de Raios X, Medição da Especificação do Revestimento de Ouro XRF

    Analisador de Espectrômetro XRF Si-Pin, Medição da Especificação do Revestimento de Raios X, Medição da Especificação do Revestimento de Ouro XRF

    Analisador de Espectrômetro XRF Si-Pin, Medição da Especificação do Revestimento de Raios X, Medição da Especificação do Revestimento de Ouro XRF

     

    Contacto
    Guangdong Hongtuo Instrument Technology Co,Ltd

    Pessoa de Contato: Mr. zhong

    Telefone: +8613267004347

    Fax: 86-769-23181253

    Envie sua pergunta diretamente para nós (0 / 3000)

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    Computador incorporado: NÃO

    Tipo de detector: Tubos de contador proporcionais

    Analisador multicanal: Multicanal digital

    Elemento de medição: 17 elementos: Au Ag Pt Pd Ir Cu Re Cd Ni Zn Rh Ru Fe Os W Pb Sn
    DXP-3000 Analisador de Espectros Portáteis, Espectrômetro Óptico de Proteção Mais Segura, Máquina de Teste Portátil de Operação Conveniente
    DXP-3000 Analisador de Espectros Portáteis, Espectrômetro Óptico de Proteção Mais Segura, Máquina de Teste Portátil de Operação Conveniente

    Análise: 1 PPm a 99,99%

    Espessura do revestimento: Dentro de 50 μm (cada material varia)

    Tempo de ensaio: 30 SEGUNDOS ~ 100 SEGUNDOS

    Voltagem do tubo de luz: 0 kv a 40 kv
    Espessura 880 Análise Não Destrutiva de Revestimentos, Testador de Espessura XRF, Analisador de Eletrodomésticos
    Espessura 880 Análise Não Destrutiva de Revestimentos, Testador de Espessura XRF, Analisador de Eletrodomésticos

    Intervalos de adaptação à temperatura: 15°C a 30°C.

    Espessura do revestimento: Dentro de 50 μm (cada material varia)

    Umidade relativa: 35% ~ 70%

    Estabilidade no trabalho a longo prazo: 00,1%
    Analisador de espessura de revestimento XRF Si-Pin, Tester de espessura de revestimento por espectroscopia, Medição da espessura do revestimento XRF
    Analisador de espessura de revestimento XRF Si-Pin, Tester de espessura de revestimento por espectroscopia, Medição da espessura do revestimento XRF

    Detector: Si Pin/SDD (opcional)

    Resolução: Si - pin 145 + 5 ev /SDD 135 + 5 ev (EUA)

    Analisador multicanal: DMCP

    Análise RoHS elementos comuns: Pb, Hg, Br, Cr, Cd, Ba, Sb, As..Etc.
    Analisador Mineral XRF DX-6600, Máquina Analisadora de Ligas XRF de Alto Desempenho, Espectrômetro de Raios-X
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    Análise: 1 PPm a 99,99%

    Tempo de ensaio: 10 SEC ~ 100 SEC

    Voltagem do tubo de luz: 5 kV ~ 50 kV (EUA)

    fonte de alimentação de alta tensão: 0 ~ 50 kV
    DX-2800 XRF Analisador de metais preciosos, Máquina de teste de composição de metais de alta precisão
    DX-2800 XRF Analisador de metais preciosos, Máquina de teste de composição de metais de alta precisão

    Computador incorporado: não

    Tipo de detector: SDD ((EUA)

    Analisador multicanal: Multicanal digital

    Elemento de medição: 72 elementos de sódio (Na) a urânio (U) entre todos os elementos
    DX-2800M Analisador de metais preciosos XRF de alta precisão, Máquina de teste de pureza de metais fácil de operar
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    Computador incorporado: - Sim, sim.

    Tipo de detector: SDD ((EUA)

    Analisador multicanal: Multicanal digital

    Elemento de medição: 72 elementos de sódio (Na) a urânio (U) entre todos os elementos
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